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具有楔形電阻性尖端的半導(dǎo)體探針及其制造方法
具有浮凸電阻性尖端的半導(dǎo)體探針及其制造方法
使用樣品間距的掃描探針顯微鏡方法和裝置的制作方法
微型化的彈簧元件及其制造方法
掃描探針顯微鏡雙步進可拼圖掃描器的制作方法
多頻率原子力顯微鏡的制作方法
用于在粒子光學(xué)裝置中獲取樣本的掃描透射圖像的方法
用于掃描探針顯微鏡的探針組件的制作方法
二氧化硅粒子表面改性方法以及其用于潛指紋顯示的方法
一種基于掃描電鏡的納米壓痕系統(tǒng)的制作方法
一種微納米尺度平面周期性結(jié)構(gòu)的反演方法
原子力聲學(xué)顯微鏡懸臂梁接觸諧振頻率追蹤系統(tǒng)的制作方法
尖頂型探頭制造方法、尖頂型探頭和尖頂型探頭制造裝置的制作方法
反饋穩(wěn)幅的調(diào)幅測力梯度儀及其掃描力顯微鏡和測頻儀的制作方法
一種微電子機械傳感器的選擇性模態(tài)自激勵方法及裝置的制作方法
一種半導(dǎo)體器件的檢測方法
儲層巖心微觀孔隙結(jié)構(gòu)原子力顯微鏡的表征方法
功率mos中esd pn結(jié)的輪廓顯現(xiàn)溶液及方法
樣品失效分析方法
用于電-機械定位的裝置和方法
高頻交流電加熱技術(shù)應(yīng)用于ZnO基底電化學(xué)微加工方法
一種傾斜式超大高寬比afm探針及其制備方法
材料表面局部光譜測量裝置及測量方法
用于測量裝置啟動的方法
平版印刷版用載體、平版印刷版原版及平版印刷版的制造方法
基于掃描隧道顯微技術(shù)的可逆分子電子器件及其制作方法
平版印刷版用支承體及平版印刷版原版的制作方法
通過信號擴展和數(shù)據(jù)整合進行的核酸測序的制作方法
一維納米材料器件制造方法
原子力顯微鏡探針的制作方法
輕且熱性能穩(wěn)定的坐標(biāo)定位儀的度量儀器及其制造方法
零阿貝誤差測量系統(tǒng)及其方法
一種用于測量分子間作用力的力譜儀的制作方法
自適應(yīng)模式掃描探針顯微鏡的制作方法
一種用于原位檢測金屬表面微區(qū)電流分布的微電極技術(shù)的制作方法
納米金屬螺旋軸錐探針的制作方法
前置放大懸臂及其應(yīng)用的制作方法
用于雙探針原子力顯微鏡的激光測力系統(tǒng)的制作方法
通過afm將癌進展分期的方法
觀測tsv銅晶粒的方法
基于壓電掃描管階躍響應(yīng)曲線的原子力顯微鏡動態(tài)成像方法
利用afm摩擦力映射的石墨烯區(qū)域測量系統(tǒng)及其方法
異質(zhì)外延生長的氮化鎵位錯密度測定方法
集成電路芯片的解剖方法
一種去除原子力納米探針針尖表面氧化層的方法
一種納米硅浮柵結(jié)構(gòu)中的微觀區(qū)域電荷注入和定量分析方法
一種光束跟蹤式原子力顯微鏡掃描測頭的制作方法
一種基于原子力顯微鏡的瀝青微觀特性的研究方法
一種可應(yīng)用于酸堿環(huán)境中的原子力顯微鏡液下針尖支架的制作方法
一種掃描近場光學(xué)檢測臺的制作方法
單分子力譜分析用afm探針和基底功能化修飾方法
鐵磁共振磁交換力顯微鏡測試系統(tǒng)的制作方法
一種辨別碳化硅晶片硅碳面的方法
微納米尺度動態(tài)耦合振動的單點跟蹤測量方法
一種微納米尺度耦合振動高分辨測量方法
用于基底的非原位分析的系統(tǒng)和方法
一種貴金屬超微電極及其制備方法
一種抑制掃描探針顯微鏡掃描大圖時溫漂影響的方法
一種利用高溫退火表征GaN外延層中位錯的方法
泵浦探針測量裝置制造方法
檢測羥基自由基的比率型熒光探針及合成方法和用途
一種用于原子力顯微鏡的氣氛控制系統(tǒng)的制作方法
一種用于標(biāo)定精密顯微設(shè)備極限分辨率的模板制造方法
原子力顯微鏡測量納米薄膜材料電阻分布的裝置及方法
基于原子力顯微鏡的單粒子或單分子示蹤裝置及示蹤方法
一種用于粘接石英音叉探針的裝置制造方法
可置于超高真空系統(tǒng)的具有耐高溫高壓可控反應(yīng)倉的stm體系的制作方法
一種包含氣流式反應(yīng)倉的反應(yīng)型掃描隧道顯微鏡的制作方法
一種基于石英音叉探針的原子力顯微鏡的成像系統(tǒng)的制作方法
用于針尖增強拉曼光譜的金屬修飾的afm針尖及其制法
電化學(xué)體系中工件的水平檢測裝置、調(diào)平裝置及調(diào)平方法
原子力顯微鏡低溫觀測系統(tǒng)的制作方法
原子力顯微鏡探針裝置制造方法
一種適用于原子力顯微鏡觀測瀝青試樣制備方法
一種利用閉循環(huán)制冷機致冷的低溫掃描隧道顯微鏡的制作方法
具有保偏特性的光纖探針及其制備方法
多鐵性材料納米尺度疇結(jié)構(gòu)的原位集成表征裝置制造方法
一種水凝膠微孔陣列形貌表征的方法
Scm樣品橫斷面的制備方法
原子力顯微鏡跨尺度高精度進樣機構(gòu)的制作方法
長波長掃描近場顯微分析系統(tǒng)的制作方法
一種點蝕形成過程的原位觀測裝置及方法
微陣列型復(fù)雜曲面光學(xué)元件的復(fù)合測量系統(tǒng)與測量方法
多區(qū)驅(qū)動的慣性壓電馬達裝置及掃描探針顯微鏡和控制法
納米電極及其制備方法
一種帶有雙電極復(fù)合型掃描微探針及其制備方法
雙端音叉掃描探針測頭系統(tǒng)及其測量方法
基于原子力顯微鏡的微納米結(jié)構(gòu)側(cè)壁表面成像裝置及該裝置的成像方法
用于控制掃描探針顯微鏡的方法及裝置制造方法
一種適用于原子力顯微鏡的金屬探針制備方法
磁性存儲裝置制造方法
一種校準用納米級臺階標(biāo)準樣品的制備方法
一種光纖探針的制備方法
一種可控大長徑比納米探針的制備裝置與制備方法
一種磁鑷裝置制造方法
原子力顯微鏡用試樣固定部件的制作方法
一種應(yīng)用于電子顯微鏡中的高穩(wěn)定性掃描探針裝置制造方法
一種多探針掃描顯微和輸運測量裝置制造方法
一種基于掃描探針顯微鏡的激光檢測裝置制造方法
一種多點接觸模式下的大面積摩擦誘導(dǎo)微米級加工設(shè)備的制作方法
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